Archivo: AFM (used) cantilever in Scanning Electron Microscope, magnification 1000x
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Description: View of cantilever in Atomic Force Microscope (magnification 1000× ; resolution ~ 0.1 μm per pixel)
Title: AFM (used) cantilever in Scanning Electron Microscope, magnification 1000x
Credit: Own work
Author: SecretDisc
Permission: GFDL, CC-BY-SA-3.0
Usage Terms: Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0
License: CC BY-SA 3.0
License Link: http://creativecommons.org/licenses/by-sa/3.0
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